粒度粒形分析儀系統(tǒng)是采用了鞘流技術(shù)的動(dòng)態(tài)粒度粒形分析系統(tǒng)，它由顯微鏡、鞘流樣品池、微量泵、進(jìn)口攝像機(jī)、攪拌分散系統(tǒng)等組成。它的工作過程是將樣品放到燒杯里制成一定濃度的懸浮液，通過攪拌器和分散器將樣品分散好以后，用微量泵將樣品抽取出來，注入到鞘流樣品池中，同時(shí)，鞘液泵也將鞘液（一般為純凈水）注入鞘流樣品池中并將樣品流包裹在中間，二者一起從樣品池中流過，在流動(dòng)過程中攝像機(jī)通過顯微鏡連續(xù)拍攝顆粒圖像并傳輸?shù)诫娔X中進(jìn)行分析，從而得到粒度和粒形參數(shù)。
粒度粒形分析儀功能及特點(diǎn)：
1.可對高速運(yùn)動(dòng)狀態(tài)下的顆粒進(jìn)行清晰的粒形和粒度分析，從不同的方向測試顆粒的形狀，保證被測試樣品的代表性；
2.高效、簡潔的模塊化設(shè)計(jì)，讓不同的分散系統(tǒng)和圖形分析系統(tǒng)自由組合，完成不同應(yīng)用領(lǐng)域的測試要求，比如對粉狀物料、懸浮液、纖維狀物料、透明晶體的粒形粒度分析；
3.可達(dá)到亞微米級的高清晰度、高精度的粒形和粒度大小同步測試；
4.高達(dá)400萬像素的CMOS成像系統(tǒng)，可以保證清晰的得到每一個(gè)顆粒的粒形信息；
5.每秒高達(dá)500幅圖片的成像速度，可以快速的獲得顆粒粒度信息，并進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析；
6.可以用于顆粒的計(jì)數(shù)應(yīng)用。
粒度粒形分析儀高性能的鏡頭和獨(dú)特的激光斜入射結(jié)構(gòu)，在單光束條件下實(shí)現(xiàn)了全角度散射光信號的接收。這種技術(shù)不僅達(dá)到了進(jìn)口儀器的用多光束技術(shù)來擴(kuò)大散射光角度的效果，還避免了多光束技術(shù)造成的間斷散射光信號的連接偏差和多波長造成的樣品折射率偏差，使測試結(jié)果更準(zhǔn)確，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了對納米、微米甚至毫米級樣品的準(zhǔn)確粒度測試。
由于探測器數(shù)量多和結(jié)構(gòu)獨(dú)特，該儀器具有分辨單峰、雙峰和多峰樣品的能力。同時(shí)，該儀器還具有樣品折射率測量計(jì)技術(shù)、自動(dòng)對中技術(shù)、防干燒超聲波分散技術(shù)、SOP技術(shù)、大功率短波長偏振光技術(shù)等，進(jìn)一步保證了重復(fù)性、準(zhǔn)確性和分辨力。
