CPS納米粒度分析儀分辨率很高，它有效地結(jié)合了高速離心沉降(ZG24000轉(zhuǎn)/分)和激光法的優(yōu)點(diǎn)，使得整個(gè)儀器能夠達(dá)到極高的分辨率，優(yōu)良的靈敏度和重復(fù)性.
同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法比較，該方法有非常高的分辨率，能夠輕松鑒別雜質(zhì)顆粒，污染顆粒或者外來顆粒。半峰寬為峰值粒度 1%，也就是說對(duì)于峰值差異只有1%的相鄰粒度兩個(gè)粒度峰，該儀器都可以有效地檢測(cè)并區(qū)分開來。儀器的分辨率如此高，得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響，測(cè)量終得到的是真實(shí)、可靠的顆粒分布。
極高的靈敏度, 低于10-8 g 活性樣品可以得到，少可以分析小于毫克乃至微克級(jí)的樣品。
高度可重復(fù)性的樣品結(jié)果; 連續(xù)重復(fù)分析峰的重復(fù)性小于±1% 或更好。
連續(xù)的離心操作；在分析連續(xù)樣品的時(shí)候，不需要儀器停止來清洗，需要極少的人工。
和傳統(tǒng)沉降法比較，更快的分析時(shí)間。速度的優(yōu)勢(shì)是基于更快的圓盤轉(zhuǎn)速以及更快的儀器檢測(cè)器響應(yīng)。采用多階速度，分析速度可以小于通常情況下的1/20。
