隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，顆粒測量方法也不斷變換、更新和完善。根據(jù)其基本工作原理，可分為幾大類：沉降法、篩分法、顯微鏡法、電感應(yīng)法和光散射法等。這些方法各有自己的特點(diǎn)和應(yīng)用范圍，但光學(xué)法以其測試速度快、操作簡便、重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn)，在顆粒測量領(lǐng)域已被廣泛采用。
粒度測量儀是目前測量顆粒粒度的主要手段之一，已廣泛應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、醫(yī)藥等領(lǐng)域。激光粒度儀一般采用小角前向散射原理，它的光電探測器通常為同心環(huán)狀結(jié)構(gòu)，測量時要求其圓心應(yīng)與入射光軸重合，此調(diào)整過程稱為對中。當(dāng)采用手動對中方式時，會增大人為因素的干擾，并提高了對操作人員技能的要求。簡化激光粒度儀在測量前需要進(jìn)行的光路對中操作，提高儀器的自動化程度，減小人為因素及機(jī)器對中速度造成的影響。
粒度測量儀根據(jù)光電探測器的特性將對中有小區(qū)分為3個部分并對影響對中精度的因素進(jìn)行了理論分析和模擬計(jì)算。熟悉硬件電路的基本結(jié)構(gòu)和功能熟悉使用采用VC++編寫的上位機(jī)軟件進(jìn)行控制現(xiàn)有的自動對中系統(tǒng)，并能根據(jù)數(shù)據(jù)分析出問題所在進(jìn)行進(jìn)一步進(jìn)行調(diào)整。以自動對中原理為依據(jù)，采取變步長的方式進(jìn)行自動對中，并針對算法中截止條件的選取問題進(jìn)行了多次測量實(shí)驗(yàn)，通過綜合比價(jià)對中精度和對中所需時間確定了系統(tǒng)所需的截止條件。
粒度測量儀是一種利用激光散射原理對顆粒大小進(jìn)行檢測的裝置，激光經(jīng)擴(kuò)束透鏡后照射到位于透明樣品池中的顆粒，經(jīng)傅立葉透鏡后在透鏡后焦面上由光電探測器接收粒子散射光。光電探測器的中心為一直徑很小的通孔，外面是多元光電探測環(huán)。由于直徑不同粒子對光散射的角分布不同，因此，根據(jù)探測器上各環(huán)接收到的光強(qiáng)大小可統(tǒng)計(jì)出各部分粒子的尺寸大小。當(dāng)沒有通過粒子場時，激光光束應(yīng)準(zhǔn)確地匯聚到探測器的中心孔上，即探測器的中心孔應(yīng)位于透鏡的焦點(diǎn)上。
